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安立知(Anritsu)宣布为旗下4G LTE-Advanced(LTE-A)讯令测试仪--MD8430A推出整合通道衰减模拟功能，新增的数位基频衰减选项使该测试仪成为一款全功能的衰减模拟器，并支援业界标准3GPP定义的衰弱讯号规格。

新推出的通道衰减选项能够与该测试仪有效结合，毋须因应实际的射频(RF)条件投资额外的硬体来执行讯令测试。此为首款内建衰减功能的LTE-A讯令测试解决方案，可支援4×4 MIMO下行链路配置。

此外，该讯令测试仪藉由内部数位基频处理，在测试执行期间应用多径效应，而 Rapid Test Designer (RTD)软体则为该测试仪提供了建立与执行衰减模拟测试的整合环境。同时可支援包括载波聚合(CA)与MIMO等LTE-A功能，且除了透过RF连线测 试装置以外，内建衰减选项的测试仪亦可支援慢速时脉数位介面，在开始生产昂贵的特定应用积体电路(ASIC)之前，可先在模拟的环境中验证设计。